介質損耗測試儀/介電常數(shù)介質損耗測試儀
產(chǎn)品概述
介質損耗測試儀/介電常數(shù)介質損耗測試儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
一、介質損耗測試儀/介電常數(shù)介質損耗測試儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項技術:
A雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 B雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 C雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。 D自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 E全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 FDDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 G計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低, Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
一、概述
介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);
主要技術特性
Q 值測量范圍 | 2 ~ 1023 |
量程分檔 | 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔 |
固有誤差 | ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ) ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作誤差 | ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ) ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
電感測量范圍 | 4.5nH ~ 140mH |
電容直接測量范圍 | 1 ~ 200pF |
主電容調節(jié)范圍 | 18 ~ 220pF |
主電容調節(jié)準確度 | 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 % |
信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ~ 160MHz |
頻率分段 ( 虛擬 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
BD916介質損耗測試裝置技術特性
平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
北廣公司其它絕緣材料檢測儀器:
BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣材料工頻率介電擊穿試驗儀
BDJC系列電壓介電強度試驗儀器
BDJC系列 電壓擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣漆漆膜擊穿強度試驗儀
BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗儀
EST-121 體積表面電阻率測定儀
GDAT-A介質損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀
GDAT-C新型介電常數(shù)介質損耗測試儀
BDH 耐漏電起痕試驗儀
BDH-B耐電弧試驗儀
中國檢測行業(yè)與驗證服務的*者和智領者,幫助眾多檢測質檢單位和學校教研單位提供一站式的全面質量解決方案。
北京北廣精儀儀器設備有限公司 www.beiguangjy.com
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