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高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試

型 號GDAT-A

更新時間2024-11-20

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試主要技術指標:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓

產(chǎn)品概述

其他電性能設備

電壓擊穿試驗儀

介電擊穿強度

固體絕緣材料電氣

介電強度試驗機

體積表面電阻率測定儀

碳素材料電阻率測試儀

電線電纜導體半導體材料電阻率測試儀

橡膠塑料滑動摩擦試驗機

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

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工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

絕緣材料耐電弧性能試驗儀


高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試主要技術特性:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。


電感器:

按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。


高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。


特點: 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。



主要技術指標:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH


高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。



裝置:

2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4



儀器的技術指標

  1.Q值測量

   a.Q值測量范圍:2~1023。

   b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

 c.標稱誤差

項    目

GDAT-A

頻率范圍

20kHz~10MHz;

固有誤差

≤5%±滿度值的2%;

工作誤差

≤7%±滿度值的2%;

頻率范圍

10MHz~60MHz;

固有誤差

≤6%±滿度值的2%;

工作誤差

≤8%±滿度值的2%。




 2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H 


3.電容測量:1~ 460

項    目

GDAT-A

直接測量范圍

1~460pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

準確度

30~500pF

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

   注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

 4.信號源頻率覆蓋范圍

項     目

GDAT-A

頻率范圍

10kHz~50MHz

頻率分段

(虛擬)

10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz     

頻率指示誤差

3×10-5±1個字




5.Q合格指示預置功能

預置范圍:5~1000。

 6.Q表正常工作條件

 a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃

b.相對濕度:<80%; 

c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

  a.消耗功率:約25W;  

b.凈重:約7kg;  

c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

8.產(chǎn)品配置:

a.測試主機一臺;

b.電感9只;

c.夾具一 套 


滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。

該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

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